반도체 소자의 열화 조건을 결정 및 테스트하는 장치
출원번호
1020190147779
등록번호
102230354
권리구분
특허권
권리기간
2019-11-18 ~ 2039-11-18
문의처
070-8065-4613
기관의 인기특허
기술 정보
발명명칭
기계 학습 모델을 이용한 반도체 소자 테스트 장치 및 방법
기술분야
반도체 소자 테스트 장치
거래방식
#특허판매#노하우#라이선스#연구협력
매도가격
가격 협의
문의처
070-8065-4613
기술 소개
기술 요약
- 본 발명은 반도체 소자의 출력 특성과 TEM/SEM 이미지에 대한 기계 학습을 수행하여 반도체 소자의 열화 조건을 결정 및 테스트하는 기술적 사상에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 본 발명은 다양한 조건에서 반도체 소자의 전기적 특성을 측정하고, 전기적 특성이 측정될 시 TEM/SEM 이미지를 획득하여 측정된 전기적 특성과 TEM/SEM 이미지에 대하여 기계 학습을 수행함으로써 반도체 소자의 열화 조건을 보다 정확하게 결정하는 기술에 관한 것이다.
매도/수 절차
절차과정
연구자의 보유기술
등록된 콘텐츠가 없습니다. |